VersaScan 微區(qū)掃描電化學測試系統(tǒng)
產品介紹：
VersaScan微區(qū)掃描電化學工作站是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上，可進行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學微區(qū)測試系統(tǒng)。每套VersaSCAN系統(tǒng)都具有較高分辨率；長工作距離的閉環(huán)定位系統(tǒng)并安裝于抗震光學平臺上，不同的輔助選件都安裝于定位系統(tǒng)上，輔助選件包括，如電位計，壓電振動單元，或者激光傳感器，定位系統(tǒng)為不同掃描探針試驗提供不同的功能。
VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統(tǒng)整合在一起，由以太網來控制，保證小信號的測量
它是一個模塊化配置的系統(tǒng)，可以實現(xiàn)如下微區(qū)掃描探針電化學技術以及激光非接觸式微區(qū)形貌測試：
Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 掃描電化學顯微鏡測試
-AC-SECM 無氧化還原介質掃描電化學顯微鏡
-Stylus-Probe 柔性探針技術-等距離掃描電化學顯微鏡
Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 掃描振動電極測試
Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開爾文探針測試
Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區(qū)電化學阻抗測試
Scanning Droplet Cell (SDC) 掃描電解液微滴測試
Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式光學微區(qū)形貌測試
Ion Selective Probe (ISP) 表面離子濃度成像系統(tǒng)
以上每項技術使用不同的測量探針，且安裝位置與樣品非常接近，但是不接觸到樣品。隨著探針測試的進行，改變探針的空間位置，然后將所記錄的數(shù)據對探針位置作圖，針對不同技術，該圖可以呈現(xiàn)微區(qū)電化學電流，阻抗，相對功函或者是表面形貌圖。
典型應用：
VersaSCAN SECM掃描電化學測量可應用于反應動力學，生物傳感器，催化劑和腐蝕機理等研究；
VersaSCAN SVET掃描振動電極測量可應用于不均勻腐蝕，點蝕，焊接和電耦合等應用研究；
VersaSCAN LEIS微區(qū)電化學阻抗測試可應用于有機涂層，裸露的金屬腐蝕等研究；
VersaSCAN SKP掃描開爾文探針測試可應用于材料，半導體，金屬腐蝕等研究；
VersaSCAN SDC電解液微滴掃描測試可應用于動力學，腐蝕，流體研究和研究樣品表面微小面積而無需破壞樣品的應用或者控制面積在不同電解液中的暴露時間的應用。
VersaSCAN OSP非觸式光學微區(qū)形貌測試可用于表面形貌測量或繪制地形圖與其它掃描探針技術一起應用于樣品表面定距離掃描測試等。
品牌Brand：AMETEK Princeton Applied Research
VersaScan微區(qū)掃描電化學工作站是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上可進行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學微區(qū)測試系統(tǒng)。
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